在5G通讯设备金手指制造中,传统直流电镀易产生枝晶、孔隙率超15%,导致插拔500次后磨损失效。威登电子技术团队创新采用水平脉冲电镀工艺,通过精准调控三大核心参数,实现微米级均匀镀金:
1. 脉冲占空比优化至30%
在10ms周期内通电3ms、断电7ms(如图1),使阴极界面金属离子浓度及时恢复,消除浓差极化。实验表明:当占空比从60%降至30%时,镀层孔隙率由12.4%降至2.1%,盐雾测试寿命延长至96小时。
2. 峰值电流密度提升至6ASD
瞬时高电流使晶核生成速率大于生长速率(图2),生成纳米晶结构。电镜扫描显示:6ASD条件下镀金层晶粒尺寸为35nm(常规工艺为120nm),显微硬度从120HV增至200HV,耐磨性提升300%。
3. 镀液湍流控制技术
威登专利设计的多向紊流发生器(专利号ZL202310XXXXXX.X),使槽液流速稳定在2.5m/s,避免氢气泡滞留。某客户案例中,金手指针孔不良率从8.7%降至0.3%,年节约黄金耗材成本120万元。
实际生产中需协同控制:
镀液温度:28±0.5℃(温度传感器实时反馈)
金盐浓度:6.8±0.2g/L(自动滴定补充系统)
pH值:4.2±0.1(磷酸盐缓冲体系)
该工艺已应用于华为5G基站连接器量产,经1000次插拔测试后接触电阻仍<10mΩ。威登工程师提醒:脉冲电源需匹配恒压模式,避免因线路阻抗导致参数漂移。相关技术细节可参阅《电镀与涂饰》2024年第5期威登专题论文。
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